ADM V8 Neuigkeiten
-
Alle Analyse Optionen wurden überarbeitet, die Berichts- und Dokumentationsmodule erweitert, bzw. erneuert
- ADM-Connect: Ein Laborrechner steuert mehrere Diffraktometer und managt die Datenerfassung aus verschiedenen Goniometern.
-
Unterstützte Messdatei Formate:
-
*.sc (ADM, RMSKempten)
-
*.xrdml (Panalytical)
-
*.raw (Brukker, STOE)
-
*.pow (STOE)
-
*.nja (Seifert, Eigenmann)
-
*.njc (Seifert, Eigenmann)
-
-
Kristallitgrößenbestimmung: Die Berechnung der Kristallitgröße wurde von der Gaussverteilung (Scherrer) und Lorenzverteilung (Warren) um das individuelle Geräteprofil erweitert. Somit werden Kristallitgrößenbestimmungen im Nanobereich nun deutlich sicherer:
-
Die Messparameterübergabe von der Quelldatei zur Zieldatei bei Profilmodifikationen (α1/ α2 -Stripping, Addition, Subtraktion, etc.) wurde optimiert.
-
ADM-Base und Xpads (Phasenanalyse) können nun parallel ausgeführt werden.
-
Die Phasenanalyse zeigt die Mengenverteilung nun auch graphisch an:
-
Fehlende Parameter bei der quantitativen Bestimmung werden dem Benutzer deutlich markiert:
-
Die Berechnung von Referenzen aus Strukturparametern wurde integriert (ADM_Cell).
-
Die Erstellung eigener Datenbanken aus veröffentlichten CIF Dateien (COD-Datenbank) werden unterstützt.
