ADM-Base
ADM Base aus dem Haus RMS kombiniert die klassische Einzeldiffraktogrammauswertung mit einer Multi-Peaklagenbestimmungsmethode und einer vollkommen neuartigen Multi-Scan Verarbeitung um kinetische, thermodynamische oder statistische Vorgänge von Phasenreaktionen zu analysieren. Alle Auswerteparameter können vom Benutzer frei gewählt und eingestellt werden. Die sofortige Neuberechnung aller Ergebnisse auch bei der kleinsten Änderung der Eingabeparameter macht ADM Base sowohl für den Routinebetrieb als auch für Forschungszwecke geeignet.
Die Anwendung weist einen modernen, geteilten Bildschirm auf, um einen kompletten Überblick über Scan, Parameter und numerische Auswerteergebnisse in einem Fenster zu präsentieren. Das online-Hilfesystem erklärt alle Einzelheiten jeder Programmfunktion. ADM Base unterstützt die Zwischenablage für Texte, Tabellen und Graphiken. Druck- und Exportfunktionen für Scans, Ergebnisse und Graphiken bieten ein umfassendes Handwerkszeug für alle Arten von Berichten. Eine Auswertung eines Diffraktogramms kann zu jedem Zeitpunkt gespeichert werden und später weitergeführt werden als sei die Bearbeitung niemals unterbrochen worden.
ADM Base wurde entwickelt
-
zur Bestimmung von Peaklagen und Peakintensitäten, zur Scanbearbeitung wie Addition und Subtraktion von Diffraktogrammen, der Umrechnung von Messdaten die mit automatischem Divergenzschlitz gewonnen wurden in Werte die einem festen Divergenzschlitz entsprechen und der KAlpha2 Korrektur. Weiterhin ist integriert eine manuelle und automatische Profilanalyse, Gitterkonstantenverfeinerung, Linienindizierung, Microstressanalyse und Kristallitgrössenbestimmung.
-
zur Multi-Scan Verarbeitung um kinetische, thermodynamische oder statistische Vorgänge von Phasenreaktionen zu analysieren.
Röntgenpulverdiffraktogramme
ADM Base bietet damit eine einzigartige Routine zur Darstellung von Intensitätsschnitten durch eine beliebige Anzahl von Scans bei einem definierten 2Theta Winkel. Diese äußerst benutzerfreundliche Software ermöglicht Ihnen eine 3D Ansicht einer beliebigen Schar von Diffraktogrammen absolut frei in alle Richtungen zu rotieren. Damit justieren Sie den interessierenden isoangularen Schnitt sowohl graphisch als auch durch numerische Eingabe. Die Schnitte werden in einem separaten Intensität/X Diagramm (2Theta=const.) gezeigt. Die X-Achse ist frei skalierbar (Zeit, Temperatur, Druck, etc.). Die Schnittpunkte der isoangularen Intensitätsdiagramme weisen auf Reaktionspunkte, Phasenübergänge oder andere Punkte von höchstem Interesse hin. Die hierfür notwendigen Messungen werden üblicherweise in Diffraktometeranlagen gewonnen, die normalerweise für Phasenanalyse eingesetzt werden.
Auswertung der Diffraktogramme
Diffraktogramme ADM Base bietet eine breite Palette von Auswertemöglichkeiten:
-
Zwei verschiedene Methoden zur Ermittlung der exakten Reflexposition (die Lagen des Maximums und des Schwerpunkts der Interferenz).
-
Zwei unterschiedliche Methoden zur Bestimmung der Lage des Maximums (Parabelverteilung und Zählmaximum)
-
Zwei Methoden zur Dämpfung der Messdaten (Moving Window Averaging und Savitzki-Golay Filter)
Verfügbare Korrekturen der Messdaten:
- Automatischer Divergenzschlitz
-
Untergrund (automatisch oder
manuell) - K-Alpha2 Wellenlänge
-
Lorenz-Polarisation (vier verschiedene Modelle, die Proben
mit schwacher oder starker Textur und schmalen oder breiten Reflexen beschreiben). -
2Theta Verschiebung (ein Punkt oder zwei Punkte Korrektur)
Peak Bestimmung
ADM Base bietet zwei verschiedene Methoden zur Bestimmung der Peakparameter:
- Klassische Kurvendiskussion
- Zweite Ableitung
Die exakte Peakposition kann bestimmt werden als
- Schwerpunkte (Neff oder Schliephake)
- Lage des Maximums (Maximale Zählrate oder Parabelanpassung)
Die folgenden Parameter werden für jeden Reflex aus den Messdaten berechnet:
- Schwerpunkt
- Lage des Maximums
- Relative integrale Intensität
- Halbwertsbreite
- Zählrate am Maximum
- Peakfläche
- Aufsteigende Flanke
- Fallende Flanke
- Standardabweichung (I)
- Maßzahl für die Kristallinität
Sofortige Neuberechnung
ADM Base berechnet alle Ergebnisse sofort. Jede Änderung eines einzelnen Parameters und dessen Einfluss auf die Analyse spiegelt sich sofort in den Ergebnissen wider. Graphische und numerische Rückmeldung wird dem Benutzer in jedem Stadium der Datenverarbeitung in Real Time dargestellt. Dieses innovative und einzigartige Konzept unserer Softwarephilosopie hilft dem Anfänger die Wichtigkeit jedes Parameters zu verstehen und macht die Entscheidung leicht, welche Korrektur anzuwenden ist.
Routine Analysen
Die Möglichkeit verschiedene Benutzer und Themenbereiche zu erzeugen versetzt Sie in die Lage ADM Base auch für Routineauswertungen zu konfigurieren. Keine fortgeschrittenen Kenntnisse werden dann von den Operatoren erwartet und die Messdatenauswertung reduziert sich auf zwei einfache Schritte:
- Auswählen und öffnen der Messdatei
- Ausdruck der kompletten Messdatenauswertung.
Individuelle Voreinstellungen
Jeder Benutzer kann die Standardvoreinstellung modifizieren und als individuelle Voreinstellung in seinem speziellen Benutzerbereich oder Themenbereich speichern. Verschiedene Benutzerbereiche spiegeln die persönlichen Präferenzen von verschiedenen Benutzern (Benutzerbereiche) wider oder zeigen speziell ausgesuchte Voreinstellungen für die Messdatenverarbeitung von verschiedenen Probenmaterialien (Themenbereiche).
Benutzerbereiche / Themenbereiche
Eine konsequent integrierte Benutzer/Themenbereich Struktur ist ein Schlüsselelement dieser modernen Benutzeroberfläche. Jeder Benutzer und jedes Thema kann unabhängig und getrennt von anderen Benutzern und anderen Themen in einem eigenen, code-gesicherten Bereich, gespeichert werden. Jeder Bereich besitzt seine eigenen Voreinstellung für jede mögliche Entscheidung die der Benutzer treffen kann.
Multi Scan Verarbeitung und Isoangulare Schnitte
Ein ausgereiftes perspektivisches Präsentationstool für 2D und 3D Darstellungen der gemessenen Diffraktogramme macht es leicht Intensitätsveränderungen oder Beugungswinkeländerungen über viele Messungen zu verfolgen. Neu und einzigartig ist die Möglichkeit Intensitätsschnitte entlang eines Beugungswinkels, sog. isoangulare Schnitte, direkt aus der 3D Darstellung abzuleiten. Schieben Sie die Schnittfläche, die parallel am Bildschirm als Intensitätskurve dargestellt wird mit Hilfe der Maus an den interessierenden Beugungswinkel.
Fixieren Sie den isoangularen Schnitt im Schnittdiagramm und fügen Sie weitere isoangulare Schnitte anderer Beugungswinkel (Reflexe) hinzu. Die dargestellten Intensitäten können mit Hilfe von RIR-Werten korrigiert werden. Mit Hilfe dieses Tools können die Gleichgewichtslagen chemischer Reaktionen, Phasenumwandlungen und andere kinetische und thermodynamische Vorgänge elegant und schnell sichtbar gemacht werden. Ebenso einfach kann die Software zeitliche Veränderungen (Drifts) von Reflexintensitäten visualisieren. Damit ist ADM Base die Software der Wahl für röntgenographische Produktionsüberwachung und Qualitätssicherung. Benutzen Sie dieses Handwerkszeug zur Darstellung von Intensitätsänderungen in Abhängigkeit eines anderen Parameters (Zeit, Temperatur, Druck, Abstand, Zusammensetzung, Konzentration). So einfach war die Darstellung von Zustandsgleichungen noch nie. Eine weitere wichtige Überwachung erledigen Sie mit diesem Tool im Handumdrehen. Überprüfen Sie die Zeitkonstanz der Intensität Ihrer Röntgenröhre, in dem Sie von Zeit zu Zeit ein Standardpräparat messen. Fügen Sie die aktuelle Messung dem Multiplot zu und Sie können an einem oder an mehreren ausgesuchter Reflexen das Langzeitverhalten Ihrer Röntgenquelle überprüfen.